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Forschungsschwerpunkte
- Züchtung und Charakterisierung von Halbleiterkristallen
- Züchtung von Element- und Verbindungshalbleitern mit freien Zonen (Schmelze, metallische Lösung)
- Electron Back Scatter Diffraction (EBSD)
- Hochauflösende Röntgendiffraktometrie
- Hochtemperatur-Lösungszonenzüchtung (THM) und Bridgman-Züchtung von binären und ternären Halbleiterkristallen
- Messung und Berechnung der Oberflächenspannung von schmelzflüssigen Halbleitermaterialien
- Numerische Simulationen zur Fluiddynamik von Schmelzen
- Ortsaufgelöste Photolumineszenz bei tiefen Temperaturen
- Rasterelektronenmikroskopie
- Realstruktur von Kristallen
- Spreading Resistance Messungen
- Synchrotron-Topographie
- Untersuchungen zu Transportphänomenen und zur Wachstumskinetik
- Zonenziehen von Si/Ge-Verbindungen
- Züchtung von Halbleitern im statischen und rotierenden Magnetfeld
- Bridgman-Züchtungen von II-VI-Verbindungen aus stöchiometrisch und nicht-stöchiometrisch zusammengesetzten Schmelzen mit Dampfdruckkontrolle
- Chemischer Transport über die Gasphase (CVT)
- Gaszonentransport von massivem CdTe
- Darstellung und Charakterisierung neuer Komplexchalkogenide in den Systemen Cd-In-Pb-Bi-S/Se
- Einkristalline Darstellung und Charakterisierung der Chalkogenid-Halogenide des Antimons, Wismuts und Bleis
- Forschung und Entwicklung anorganischer biokompatibler Materialien
- Kristallstrukturanalyse
- Kristallzüchtung und Charakterisierung ternärer Chalkogenide des Typs AB2X4 und verwandter quaternärer Phasen, z.B. AlkA4B5X12
- Lösungszonenzüchtung (THM) und Bridgman-Züchtung von AgGaS2, AgGaTe2, LiInS2, LiInSe2
- Phasendiagrammbestimmung von Mehrkomponentensystemen
- Thermische Analyse
- Weiterentwicklung von Computer-Software (SCHAKAL) zur graphischen Darstellung von Kristall- und Molekülstrukturen
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